單片集成電路二次篩選服務(wù)簡(jiǎn)介
江蘇粵科檢測(cè)是一家擁有CNAS資質(zhì)的電子元器件二次篩選機(jī)構(gòu)，專業(yè)提供單片集成電路二次篩選服務(wù)，以確保產(chǎn)品在出廠前性能穩(wěn)定、可靠性達(dá)標(biāo)。我們的服務(wù)對(duì)象包括各類電子元器件生產(chǎn)商、系統(tǒng)集成商以及終端設(shè)備廠商，真正做到“發(fā)現(xiàn)隱患、杜絕不良上機(jī)”。
單片集成電路二次篩選的目的及原理
1. 服務(wù)目的
- 提升良率：通過二次篩選，剔除在初篩或生產(chǎn)流水線上漏檢的失效品，降低后續(xù)裝配返修率。
- 降低風(fēng)險(xiǎn)：防止少量失效IC引發(fā)大規(guī)模產(chǎn)品故障，節(jié)省售后成本。
- 滿足標(biāo)準(zhǔn)：符合軍工、航天、高端電子設(shè)備對(duì)IC可靠性的嚴(yán)格要求。
2. 工作原理
核心是利用環(huán)境應(yīng)力和電性能測(cè)試相結(jié)合的方式，把潛在失效品“挖”出來。
- 應(yīng)力加速失效：如溫度循環(huán)、恒定加速度、老化等，使早期失效產(chǎn)品在短時(shí)間內(nèi)暴露缺陷；
- 電性能驗(yàn)證：分別在室溫、高溫、低溫下，通過精密儀器對(duì)合約參數(shù)進(jìn)行重測(cè)，對(duì)比Δ值判斷是否合格；
- 物理檢測(cè)：借助放大鏡/顯微鏡和PIND（粒子碰撞噪聲檢測(cè)）等手段，排查封裝和內(nèi)在結(jié)構(gòu)異常。
單片集成電路二次篩選流程
1. 編序列號(hào)： 為每個(gè)待篩選芯片賦予唯一標(biāo)識(shí)，全程追蹤，確保數(shù)據(jù)可追溯。
2. 電參數(shù)測(cè)試（初始）： 在室溫下，嚴(yán)格按照合同、詳細(xì)規(guī)范或產(chǎn)品手冊(cè)要求，測(cè)試芯片的各項(xiàng)電性能參數(shù)（如電壓、電流、頻率、功能等），建立性能“基線”。
3. 溫度循環(huán)：
- 方法： GJB548A 方法1001A。
- 條件： 通常進(jìn)行10次循環(huán)（條件C）。芯片在極端高溫和低溫間快速轉(zhuǎn)換，考驗(yàn)其抵抗熱脹冷縮應(yīng)力的能力，暴露材料、結(jié)構(gòu)缺陷。
4. 恒定加速度：
- 方法： GJB548A 方法2001A。
- 條件： 通常在Y1方向施加高離心力（條件E或D）。模擬火箭發(fā)射、劇烈振動(dòng)等場(chǎng)景下的機(jī)械應(yīng)力，篩選出內(nèi)引線鍵合不良、芯片粘接不牢等缺陷。
5. 外部目檢： 使用10倍放大鏡或顯微鏡仔細(xì)檢查芯片外部封裝是否存在破損、裂紋、引腳變形、標(biāo)記不清等問題。
6. 粒子碰撞噪聲檢測(cè) (PIND)：
- 方法： GJB548A 方法2020A。
- 條件： 試驗(yàn)條件A。通過振動(dòng)和沖擊，檢測(cè)密封腔體內(nèi)部是否存在可動(dòng)多余物（如金屬屑、焊渣）。
- 說明： LTPD=10（批次允許缺陷率），若不通過，則該批次需100%全檢。
7. 老練前電參數(shù)測(cè)試（室溫）： 再次進(jìn)行室溫電參數(shù)測(cè)試，與初始測(cè)試對(duì)比，觀察經(jīng)過環(huán)境應(yīng)力后性能是否有變化。
8. 老練 (Burn-in)： 核心篩選項(xiàng)目！
- 方法： GJB548A 方法1015A。
- 條件： 在高溫（至少125℃）下長(zhǎng)時(shí)間通電工作（常見240h, 160h, 96h）。優(yōu)先采用動(dòng)態(tài)老練（模擬實(shí)際工作狀態(tài)），效果更佳。功率器件可在室溫下老練。此過程通過電-熱應(yīng)力的共同作用，加速誘發(fā)潛在缺陷（如柵氧缺陷、電遷移）導(dǎo)致的失效。
9. 老練后電參數(shù)測(cè)試（室溫）： 老練結(jié)束后，立即進(jìn)行嚴(yán)格的室溫電參數(shù)測(cè)試。不僅要看參數(shù)是否合格，還要計(jì)算關(guān)鍵參數(shù)的漂移量（Δ值），并據(jù)此計(jì)算批次的不合格品率 (PDA)。
- 說明： 不同等級(jí)要求不同（例如：Ⅰ級(jí) PDA≤5%或1只取大值；Ⅱ級(jí) PDA≤10%或1只取大值；Ⅲ級(jí) PDA≤15%或1只取大值）。這是判斷批次是否通過的關(guān)鍵指標(biāo)。
10. 電參數(shù)測(cè)試（高溫）： 將芯片置于高溫環(huán)境下測(cè)試其電參數(shù)性能，確保其在高溫下仍能正常工作。 (LTPD=10，不通過則全檢)
11. 電參數(shù)測(cè)試（低溫）： 將芯片置于低溫環(huán)境下測(cè)試其電參數(shù)性能，確保其在低溫下仍能正常工作。 (LTPD=10，不通過則全檢)
12. 密封性檢測(cè)： 至關(guān)重要！確保芯片封裝的氣密性，防止?jié)駳狻⑽廴疚锴秩搿?/p>
- 方法： GJB548A 方法1014A。
- 條件：
- a. 細(xì)檢漏： 檢測(cè)微小泄漏（試驗(yàn)條件 A1 或 A2）。
- b. 粗檢漏： 檢測(cè)較大泄漏（試驗(yàn)條件 C1 或 C2）。
13. 最終外部目檢： 篩選流程結(jié)束后，再次使用10倍放大鏡或顯微鏡進(jìn)行最終外觀檢查，確認(rèn)經(jīng)過所有應(yīng)力后封裝完好無損。 (注：根據(jù)需求，有時(shí)在篩選開始也會(huì)增加一次目檢)
單片集成電路二次篩選報(bào)告辦理流程
1. 需求溝通與確認(rèn)： 您提供芯片信息（型號(hào)、規(guī)格、數(shù)量）、篩選依據(jù)標(biāo)準(zhǔn)、篩選等級(jí)要求（Ⅰ、Ⅱ、Ⅲ級(jí)）、以及是否有特殊項(xiàng)目需求。我們進(jìn)行技術(shù)評(píng)估和確認(rèn)。
2. 簽訂合同與送樣： 雙方確認(rèn)篩選方案、價(jià)格、周期后簽訂服務(wù)合同。您將待篩選的芯片安全包裝后送達(dá)我司實(shí)驗(yàn)室。
3. 樣品接收與登記： 實(shí)驗(yàn)室接收樣品，核對(duì)信息，登記編號(hào)，進(jìn)入待檢區(qū)。
4. 執(zhí)行篩選流程： 我們的專業(yè)工程師嚴(yán)格按照確認(rèn)的篩選流程進(jìn)行操作，全程記錄數(shù)據(jù)。
5. 數(shù)據(jù)整理與判定： 所有測(cè)試和試驗(yàn)完成后，工程師匯總分析所有數(shù)據(jù)，根據(jù)標(biāo)準(zhǔn)要求進(jìn)行嚴(yán)格的質(zhì)量判定（合格/不合格），并計(jì)算PDA等關(guān)鍵指標(biāo)。
6. 報(bào)告編制與審核： 生成詳細(xì)的篩選報(bào)告。報(bào)告包含：委托信息、樣品信息、篩選依據(jù)標(biāo)準(zhǔn)、執(zhí)行的篩選項(xiàng)目、方法、條件、詳細(xì)測(cè)試數(shù)據(jù)（關(guān)鍵參數(shù)、Δ值等）、篩選結(jié)果（合格數(shù)量/不合格數(shù)量及原因分析）、PDA計(jì)算結(jié)果、最終結(jié)論、操作人員、審核人員簽名及日期、加蓋CNAS（如適用）及公司檢測(cè)專用章。
7. 報(bào)告交付與樣品返還： 審核無誤的正式報(bào)告（電子版和紙質(zhì)版）交付給您。合格的芯片與報(bào)告一同（或按約定）返還；不合格芯片通常會(huì)隔離并建議報(bào)廢，或按您要求處理。
8. 售后服務(wù)： 提供報(bào)告解讀和技術(shù)咨詢支持。
江蘇粵科檢測(cè)擁有專業(yè)的檢測(cè)團(tuán)隊(duì)、先進(jìn)的實(shí)驗(yàn)設(shè)備、完善的質(zhì)量管理體系以及國(guó)家認(rèn)可的檢測(cè)資質(zhì)。我們深刻理解高可靠性領(lǐng)域?qū)纹呻娐焚|(zhì)量的嚴(yán)苛要求，致力于通過專業(yè)、嚴(yán)謹(jǐn)?shù)亩魏Y選服務(wù)，為您筑牢產(chǎn)品質(zhì)量的第一道防線，有效降低風(fēng)險(xiǎn)，保障您的產(chǎn)品在市場(chǎng)中贏得可靠聲譽(yù)。
如果您正在尋找專業(yè)的單片集成電路二次篩選機(jī)構(gòu)，需要辦理權(quán)威的篩選檢測(cè)報(bào)告，或者對(duì)篩選流程有任何疑問，歡迎隨時(shí)聯(lián)系江蘇粵科檢測(cè)！ 讓我們?yōu)槟碾娮釉骷|(zhì)量保駕護(hù)航。
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